Bir kere iyonize olmuş lantan atomunun ince yapı enerji seviyelerinin incelenmesi

Bu çalışmada; bir kere iyonize olmuş lantan (La II) atomuna ait 330 nm–1450 nm (30000 cm-1–6900 cm-1) spektral aralığında kalibre edilmiş yüksek-çözünürlüklü Fourier-Transform spektrumunda gözlenen aşırı ince yapı çizgilerinin ağırlık-merkezi dalga sayılarının doğrulukla belirlenmesi, bu çizgilere ait deneysel olarak bilinen alt-üst ince-yapı enerji seviyelerinin istatistiksel belirsizlik değerleri de hesaplanarak yüksek hassasiyetle düzeltilmesi ve revize edilmesi amaçlandı. La II spektral çizgilerinin ağırlık-merkezlerinin belirlenebilmesi için, geçişlerin alt-üst enerji seviyelerinin literatürde deneysel olarak belirlenmiş manyetik dipol A ve elektrik kuadrupol B aşırı ince yapı sabitleri kullanıldı. Bilinmeyen A&B değerleri, deneysel spektrum ile teorik spektrumların simülasyonu ile elde edildi. Analiz edilen 344 spektral çizginin ve literatürdeki dalga boyu tablolarından 81 spektral çizginin ağırlık-merkezi dalga sayıları kullanılarak, deneysel olarak bilinen 115 La II ince-yapı enerji seviyesi ilk defa bu çalışmada revize edildi. Bu seviyelerden 94'ü, 0.01 cm-1'den daha iyi hassasiyetle hesaplandı. 34 La II seviyesi için aşırı ince yapı sabitleri ilk defa bu çalışmada tahmin edildi.