Çeşitli analog-dijital dönüştürücülerin tasarımı ve radyasyon analizi

Bu çalışma, çeşitli analog-dijital dönüştürücülerin şematik düzeyde tasarımı ve radyasyon analizi üzerinedir. Bu bağlamda paralel karşılaştırıcı (flash), ardışık yaklaşım (SAR) ve sigma-delta tipi olmak üzere üç farklı mimaride analog-dijital dönüştürücüler tasarlanıp geçici ve kalıcı radyasyon etkisi altında test edilmiştir. Paralel karşılaştırıcı tipi dönüştürücü, analog devreler için bir modelleme dili olan Verilog-A ile tasarlanırken ardışık yaklaşım ve sigma-delta tipi dönüştürücüler 65nm CMOS teknolojisinde transistörler ile tasarlanmıştır. Tasarlanan dönüştürücüler devrede geçici etki yaratan SET tipi ve kalıcı etki yaratan TID tipi radyasyon etkileri altında incelenmiştir. Tasarlanan paralel karşılaştırıcı tipi dönüştürücü yalnızca TID etkisi altında incelenmiş olup bu etkinin yarattığı sonuçlar sunulmuştur. Ardışık yaklaşım tipi için ise birbirleriyle karşılaştırma yapabilmek adına iki farklı kapasitif dijital-analog dönüştürücü topolojisi kullanılarak tasarımlar yapılmıştır. Bu ardışık yaklaşım tipi analog-dijital dönüştürücüler ayrı ayrı TID ve SET etkileri altında incelenip elde edilen sonuçlar açıklanmıştır. Analog-dijital dönüştürücülerin SET simülasyonlarının sonucunda, incelenen iki analog-dijital dönüştürücünün radyasyon performansları karşılaştırılıp dijital-analog dönüştürücülerin hassas düğümleri belirlenmiştir. Sigma-delta dönüştürücü kısmında ise birinci dereceden bir modülatör tasarlanarak TID ve SET etkileri altında incelenmiştir. Sunulan sonuçların yanı sıra modülatör içerisindeki entegratörün hassas düğümleri belirlenmiş ve çeşitli çıkarımlar yapılmıştır.