Sn ve In elementlerinin oluşturduğu alaşımların X-ışını flouresans parametreleri üzerine alaşım etkisi

Bu çalışmada 〖Sn〗_x 〖In〗_y 〖Bi〗_6 alaşımlarında bulunan Sn ve In elementlerinin K tabakası fluoresans tesir kesiti ve fluoresans verimi, K_β⁄K_α X-ışını şiddet oranı, EDXRF tekniği kullanılarak araştırıldı. Numuneler 241-Am radyoizotop halka kaynağından yayımlanan 59.5 keV enerjili γ-ışınları ile uyarıldı ve numuneden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, rezolüsyonu 5.9 keV'de 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. Bu çalışmada elde edilen değerler teorik değerlerle karşılaştırıldı ve K_α ile K_β tesir kesiti değerlerinin Sn elementi için yüzdelik dilim arttıkça arttığı, In elementi için ise yüzdelik dilim azaldıkça arttığı gözlemlenmiştir.