Bazı elementler ve bileşiklerinin floresans parametreleri ve FeySe1-xTex süperiletken ince filmlerin yapısal analizi

Bu çalışmada Zr, Sb, Ta, W elementleri ve bu elementlere ait bazı bileşikler için K ve L kabuğuna ait X-ışını floresans tesir kesitleri, floresans verim ve şiddet oranları deneysel olarak ölçüldü. Bunun yanı sıra Radyo Frekans (RF) tekniğiyle üretilen süperiletken FeySe1-xTex ince filmlerin yüzey analizi XRD, texture XRD, SEM, direnç sıcaklık ölçümleri MPMS sistemleri, X-ışını şiddet oranları EDXRF ile ölçüldü. Numunelerin K ve L kabuğunu uyarmak için 50 mCi'lik bir 241Am radyoaktif kaynağından yayımlanan 59.543 keV'lik gama ışınları kullanıldı. Numunelerden yayımlanan karakteristik K ve L X-ışınları, rezolüsyonu 5.9 keV'da 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. Elde edilen deneysel değerler, hesapladığımız teorik değerler ve literatürde mevcut teorik, yarı-deneysel ve deneysel değerler ile karşılaştırılmıştır. Bu değerler arasında gözlemlenen farklılıklar, kimyasal etkiye ve çoklu iyonizasyon etkisine göre açıklanmıştır.