Çok değişkenli kalite kontrol grafikleri ve yapay sinir ağları yöntemiyle döküm sanayisinde bir istatistik süreç kontrol uygulaması

Yapılan çalışmada, MKE Kurumuna bağlı olarak faaliyetlerini yürüten Pirinç Fabrikası Müdürlüğünün üretim süreçlerinde kalite iyileştirme çabaları kapsamında sürecin değişkenliğini kontrol etmek amacıyla istatistiksel süreç kontrolü uygulanmış ve element oranları tek ve çok değişkenli kontrol grafikleri ile izlenmiştir. Ancak tek ve çok değişkenli kontrol grafiklerinde tespit edilen kontrol dışı sinyallerin yorumlanması esnasında hata kaynaklarını teşhis etmede uygun sonuçlara ulaşılamamıştır. Bu durum üzerine süreçte meydana gelen değişimi etkileyen hata kaynaklarını teşhis etmek maksadıyla süreç tabanlı temel gösterimleri yöntemi (STTG) yöntemine dayalı bir model önerilmiştir. Önerilen modelde, STTG yöntemi, çok değişkenli kontrol grafikleri ve yapay sinir ağları (YSA) hibrit bir şekilde kullanılmıştır. Önerilen model, pirinç, demir ve alüminyum döküm süreçlerinde kullanılabilecek genel bir modeldir. Bu model, bütün döküm süreçlerinde kullanılabilir ancak problemin durumuna göre özelleştirilmesi gerekir. Modelin oluşmasında temel olarak kullanılan STTG yöntemi, literatürde imalat sanayinde geometrik sapmaların modellenmesinde kullanılmıştır, ancak süreç (kimya, petro-kimya, döküm vb.) endüstrilerinde ve malzeme içeriklerinin modellenmesinde kullanılmamıştır. Bu kapsamda STTG yöntemi, bu çalışmada ilk defa farklı bir üretim sürecinde kullanılmış ve başarılı bir şekilde uygulanmıştır. Literatürde STTG katsayılarının tek değişkenli kontrol grafikleri ile izlenmesi önerilmektedir. Bu çalışmada ise bu katsayılar Hotelling T² kontrol grafiği ile izlenmiştir. Kalite karakteristiklerinin Hotelling T² kontrol grafiği ile izlenmesi esnasında kontrol dışı durumları temsil eden bazı tipik örüntülerin oluştuğu da tespit edilmiş ve bu örüntülerin otomatik olarak tanınması için YSA modelleri kullanılmıştır. Ayrıca belirtilen modelin uygulanması esnasında, STTG yöntemi ile ilgili olarak literatürde olmayan düşük boyut problemi ile karşılaşılmış ve bu duruma karşı çözüm yolları üretilmiştir.