Anahtarlamalı bir güç elektroniği devresinin güvenirliliği ile transistör sürme devresi parametreleri arasındaki bağlantının değerlendirilmesi
2016
0 görüntülenme
0 i̇ndirme
Danışman: Prof. Dr. Haldun Karaca
Özet (TR)
Günümüzde tasarlanan birçok cihazda güç elektroniği devreleri kullanılmaktadır. Bu devrelerin kullanım amacı, bir kaynaktan alınan elektrik enerjisinin kontrollü bir şekilde yüke aktarılmasını sağlamaktır. Güç elektroniği devresi temel olarak iki kısımdan oluşmaktadır. Bu kısımlar güç devresi ve kontrol devresi olarak adlandırılabilir. Güç devresinde, çalışacak sisteme göre seçilen MOSFETler bulunmaktadır. Kontrol devresinde ise güç devresindeki MOSFETlerin kontrollü bir şekilde sürülmesini sağlayacak, bir yapı bulunmaktadır. Güç devresinin çalışması kontrol devresine bağlıdır. Bu sebeple, güç elektroniği sistemlerindeki MOSFET sürücü devreleri, kullanılan MOSFETlere ve çalışacak sisteme göre tasarlanmaktadır. Özellikle yüksek frekans ve voltajlarda çalışan MOSFETlerde kaynak genliklerinin birkaç katı kadar voltaj ve akım yükselmeleri gözlemlenmektedir. Bunun yanı sıra kapı-kaynak bacaklarına uygulanan sürme işaretinde salınımlar gözlemlenmektedir. Bu yükselmeler ve salınımlar MOSFETlerin ya da devredeki diğer bileşenlerin zarar görmelerine sebep olmaktadır. Piyasada 200 kHz anahtarlama frekansına kadar kullanılabilecek güvenilir MOSFET sürücü devreleri mevcuttur. Bu tezde ise 400 kHz ve üzeri frekanslarda çalışabilecek MOSFET sürücü devresi tasarlanmıştır. Bu devre tasarlanırken öncelikle CST Studio isimli benzetim yazılımı kullanılarak benzetimleri yapılmıştır. Elde edilen sonuçlara göre tasarımı yapılan baskılı devre plaketinin laboratuvar ortamında testleri yapılmıştır. MOSFET sürme devresinin tamamlanmasının ardından, yapılmış benzetim ile test sonuçları karşılaştırılmıştır. Sonrasında geliştirilen devre, tasarlanan güç elektroniği sisteminde denenmiştir.
Yazar
Dr. Hamdullah Cihangir Topaç
Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır
Hamdullah Cihangir Topaç (Yüksek Lisans Tezi). Anahtarlamalı bir güç elektroniği devresinin güvenirliliği ile transistör sürme devresi parametreleri arasındaki bağlantının değerlendirilmesi, 2016, Bingol University.
Anahtar Kelimeler
Lisans
Tüm Hakları Saklıdır
Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.
Bingol University tezlerinden daha fazlası
- Batman'ın iklim koşullarında eğimli düzleme gelen güneş ışınımının farklı açı değerlerinde belirlenmesi(2014)
- Altıkardeş Dağı ve çevresinin (Genç-Bingöl) florası(2014)
- Parabolik oluklu güneş kolektörleri ile bütünleştirilmiş jeotermal kaynaklı organik rankin çevriminin ısıl modellenmesi(2016)
- Prostat kanserinde uygulanan statik yart teknikleri için eclipse tedavi planlama sisteminde fiziksel ve biyolojik plan optimizasyon algoritmalarının karşılaştırılması(2016)
- Hepatoselüler karsinoma'da hepatosit büyüme faktörü (HGF) gen promotörünün 'deoksi adenozin' bölgesinde meydana gelen mutasyonların ve bu mutasyonların sorafenib direnci gelişimindeki rolünün tanımlanması(2017)
- Bingöl ilinde yetişen bazı Achillea l. (Asteraceae) taksonlarının uçucu yağ kompozisyonlarının araştırılması(2014)
