Yüksek LisansAçık Erişim

Farklı marka ofis kağıtlarında XRF yöntemiyle element analizi

Bu tez size mi ait?

Bu kayıt toplu arşivden geldi. Sizinse profilinize bağlayın.

2013
0 görüntülenme
0 i̇ndirme

Özet (TR)

Bu çalı?mada 27 farklı marka 80g/m2 ve 210x297mm boyutlu beyaz A4 kağıtlar; beyaz kağıt, fotokopili kağıt ve kül peletler halinde EDXRF (Epsilon5, PANalytical) sistemiyle analiz edilmi?tir. Yapılan analiz çalı?maları sonucunda kağıt numunelerinden elde edilen ppm düzeyindeki element konsantrasyon değerleri ve bu değerler arasındaki Pearson Correlation ili?kileri SPSS programı ile hesaplanmı?tır. Analiz çalı?malarıyla beyaz kağıt içeriğinde ağırlıklı olarak sırasıyla Ca, Al, Si; fotokopili kağıtta Ca, Fe, Al; kül peletlerde Ca, Si, Al elementleri tespit edilmi?tir. Ayrıca numunelerin önemli bir kısmında insan sağlığı ve çevre kirliliğinde önemli etkileri olan Pb, Zn, Hg, Co, Ni, Br elementlerine rastlanmı?tır. Element konsantrasyonları arasında en güçlü ili?kiler beyaz kağıt ve fotokopili kağıt için Zn-Fe arasında olup, kül verileri için önemli düzeyde anlamlı bir ili?ki tespit edilememi?tir. Bu çalı?ma ile elde edilen verilere bakıldığında kağıt içeriğinin önemli ölçüde deği?tiği görülmektedir. Yeni çalı?malar farklı örnek gruplarıyla yapılmalıdır.

Yazar

Mustafa Yaylı

Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır

Mustafa Yaylı (Yüksek Lisans Tezi). Farklı marka ofis kağıtlarında XRF yöntemiyle element analizi, 2013, Karadeniz Technical University.

Anahtar Kelimeler

Lisans

Tüm Hakları Saklıdır

Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.

Karadeniz Technical University tezlerinden daha fazlası