A robust repetitive controller for fast AFM imaging

Günümüzde Atomik Kuvvet Mikroskobu (AKM) bir çok avantajından dolayı en çok tercih edilen Taramalı Uç Mikroskobu yöntemlerinden biridir. Ancak tarama hızını arttırmak ve tarama ucuyla örnek yüzeyi arasındaki etkileşim kuvvetlerini azaltmak hala AKM yönteminin iki önemli problemidir. Bu problemleri çözmek için bir AKM taraması sırasında yapılan yanal hareketlerin tekrarlı bir hareket olmasından faydalanarak piezo tarayıcının z-ekseni hareketleri için bir Tekrarlı Kontrolcü (TK) tasarladık. Bir satırın taranması sırasında, TK bir önceki satır profilinden yararlanarak daha yüksek performansta bir tarama gerçekleştirmektedir. AKM düzeneğimizde gerçekleştirilen tarama deneyleri sonucunda önerilen TK'nın aynı deney için geleneksel olarak kullanılan PI kontrolcüye nazaran çok daha başarılı olduğu gözlemlenmiştir. Tarama hızı 7 katına çıkarıldığında tarama hatası %66, etkileşim kuvvetleri ise %58 oranında azaltılmıştır.