Scanning hall probe microscopy (SHPM) using quartz crystal AFM feedback

Taramalı Hall Aygıtı Mikroskopisi (THAM), ferromanyetik malzemelerdekimanyetik alanlar gibi lokalize yüzey manyetik alanlarını yüksek uzaysalçözünürlükle (yaklaşık50nm) ve oda sıcaklığında bile 7mG/Karekök(Hz)manyetik alan çözünürlüğü ile etkileşimsiz ve nicel olarak ölçmek için kullanılanbir tekniktir. THAM tekniğinde, Hall aygıtını yüzeye yaklaştırmak için genellikleTaramalı Tünelleme Mikroskobu (TTM) veya Atomik Kuvvet Mikroskobu(AKM) geribeslemesi kullanılır. AKM geribeslemesi için Hall aygıtının karmaşıkbir mikrofabrikasyon yöntemi kullanılarak AKM yayı ile entegre edilmesi gerekir.Bu çalışmada zor olan yay-Hall aygıtı entegrasyonunu gereksiz hale getirdik. Hallaygıtını kuvvet algılayıcısı olarak kullanılan bir kuvars kristali üzerine yapıştırdık.Algılayıcı rezonans frekansında titreştirildi, ve kuvars kristalinin çıktısı Lock inveya PLL sistemleri ile incelendi. THAM elektroniği AKM topografyasını ve fazdeğişimini manyetik alan bilgisiyle beraber alabilecek biçimde değiştirildi. NISTMIRS (Sabit Disk), 100 MB yüksek kapasiteli ZIP diski ve Demir-Garnetörnekleri Kuvars Kristali AKM geri beslemesi ile görüntülendi ve performansıTTM geri beslemesi kullanılan THAM ile karşılaştıralabilir bulundu. KuvarsKristalli AKM geribeslemesi THAM için çok basit algılayıcı üretimini vekullanımını vaad etmektedir. Bu metod THAM uygulaması için örneklerin iletkenolması gereksinimini ortadan kaldırmaktadır.Anahtar sözcükler: Taramalı Tünelleme Mikroskopisi, Atomik KuvvetMikroskopisi, Taramalı Hall Aygıtı Mikroskopisi, Temassız AKM, KuvarsKristali Çatalları.