Nükleer fizik alanında X-ışını görüntüleme hedefli patent/faydalı model çalışmalarının analizi

Son yıllarda ülkemizde ve dünyada patent çalışmalarına verilen önem giderek artmaktadır. Yapılan patent başvuru sayısının o ülkenin o alanda gelişmişlik düzeyi ile ilişkisi olduğu düşünülmektedir. Bu tez çalışmasında özel olarak nükleer alanda X-ışını görüntüleme hedefli yapılan patent/faydalı model başvurularının seçilen özelliklerine göre sınıflandırılması yapılmıştır ve bu sınıflandırmalar ışığı altında karşılaştırmalı analizler oluşturulmuştur. Sonuç olarak da bu analizler ülkelerin gelişmişlik düzeyleriyle ilişkilendirilmeye çalışılmıştır. Bu araştırma WIPO, EPO ve TPMK veri tabanlarındaki patent/faydalı model başvurularını kapsamaktadır. Bu veri tabanlarından alınan, son 10 yılda nükleer alanda X-ışını görüntüleme hedefli yapılmış patent/faydalı model başvurularının kim tarafından, hangi yıl, hangi ülkeden, hangi konuda gibi özellikleri sınıflandırılarak özel bir veri kümesi oluşturulmuştur. Bu veri kümesi kullanılarak yapılan analizlerin sonuçları ülkemizin nükleer alanda patent konusuna verdiği önemi gösterecek ve ülkemizi dünya geneli ile kıyaslamamıza yardımcı olacaktır.