Stronsiyum florür-germanıum içeren ince film cam üretimi ve karektrizasyonu

Bu araştırmada RF kopartma yöntemi kullanılarak, özelbir tür camın ince filmleri üretilmiştir. Bu çalışmada, ilk başlangıçta belirli miktarlarda: SrF2, SiO2, SrO, Al2O3, Na2CO3 ve K2CO3 malzemelerin karışımları kullanlarak ince film camlar elde edilmiştir. Daha sonra bu karışıma %3, %5 ve %10 oranlarında Ge katksı yapılarak camların soğuruculuk özelliklerideğiştirlmiştir. İlk olarak kaplamalar 6, 8, 10, 12, 14 ve 16 saat'de adi cam alttaşın üzerine yapılmıştır. Numunelerin XRD ve görünür ışık bölgesindeki soğurmaları analiz edilmiş ve 16 saat süre ile yapılan numunenin soğurma analizinde pik değerlerini net bir şekilde gözlemlenmiştir. Bu çalışma boyunca Ge un %3, %5 ve %10 yüzdesinde katkısı olan targetlerinin ince filmi, birde kuvartz alttaş üzerindede 16 saatde yapıldı ve numunelerinin XRD analizlerinde düzenli kristal pikleri oluşumu gözlemlendi. Farklı oranlarda kuvartz üzerinde yapılan numuneler, faz ayırma prensibi için, 570C 580C, 590C, 600C ve 610C sıcaklıkta, 3 saat süre boyunca fırın içerisine bırakıldı ve XRD sonuçları düzenli bir kristal oluşumunu gösterdi. Bu numunelerden XRD, SEM, soğurma analizi, geçirgenlik ve elektrik iletkenliği analizleri alındı.