Scanning probe microscopy for optoelectronic characterization at the nanoscale
Is this your thesis?
This record came from a bulk archive import. If it’s yours, link it to your profile.
Abstract (TR)
Bu çalışmada, nano yapıda olan yüzeylerin tarama sonda mikroskobukullanılarak, elektrostatik kuvvet ve tünelleme akımı ölçümleri yoluylakarakterizasyonu için yöntemler öneriyoruz. Bunun için, elektrostatik kuvvetmikroskobunda (EKM) 10 nm'den daha küçük düzeyde çözünürlük elde edildive bu neticenin elde edilebilmesinin sebepleri uç-nümune kapasitansı ve ucuntasarımından kaynaklanan mekanik titreşimler cinsinden izah edildi. EKM'deuç-nümune etkileşimleri basit bir uç-nümune kapasitansı modelinden dahagenişletilmiş bir devre ile modellenerek incelendi. Yüzey fotovoltajı ölçümleriyapıldı ve bu ölçümün EKM'de doğrulanması frekans tepkisi de ölçülereksağlandı. Ayrıca, EKM ölçümlerini, tünelleme akımı ölçümleriyle birleştirerek,grafen/grafen oksit nümunelerinin optoelektronik özellikleri karakterize edildi.
Author
Mustafa Ürel
Institution
How to Cite
Mustafa Ürel (Yüksek Lisans Tezi). Scanning probe microscopy for optoelectronic characterization at the nanoscale, 2010, İhsan Doğramacı Bilkent University.
License
Tüm Hakları Saklıdır
This work is shared under the specified license terms.
More theses from İhsan Doğramacı Bilkent University
- A study over tax and relationship formed around taxation in the Ottoman Empire (16th-17th century)(2019)
- Random sets and choquet-type representations(2021)
- Oil price surges and the yield curve(2024)
- Living alone: Pathways, experiences and future expectations(2025)
- The evolution of a concept: "Vatan" from hometown to shared place(2024)
- Approaches to teaching creative writing in L2 at the tertiary level: A critical interpretive synthesis(2025)