Scanning probe microscopy for optoelectronic characterization at the nanoscale

Bu çalışmada, nano yapıda olan yüzeylerin tarama sonda mikroskobukullanılarak, elektrostatik kuvvet ve tünelleme akımı ölçümleri yoluylakarakterizasyonu için yöntemler öneriyoruz. Bunun için, elektrostatik kuvvetmikroskobunda (EKM) 10 nm'den daha küçük düzeyde çözünürlük elde edildive bu neticenin elde edilebilmesinin sebepleri uç-nümune kapasitansı ve ucuntasarımından kaynaklanan mekanik titreşimler cinsinden izah edildi. EKM'deuç-nümune etkileşimleri basit bir uç-nümune kapasitansı modelinden dahagenişletilmiş bir devre ile modellenerek incelendi. Yüzey fotovoltajı ölçümleriyapıldı ve bu ölçümün EKM'de doğrulanması frekans tepkisi de ölçülereksağlandı. Ayrıca, EKM ölçümlerini, tünelleme akımı ölçümleriyle birleştirerek,grafen/grafen oksit nümunelerinin optoelektronik özellikleri karakterize edildi.