Titanyum ve bileşiklerinin X-ışını floresans parametreleri üzerine kimyasal etkisi

Bu çalışmada Ti ve bileşiklerindeki elementlerinin K tabakası floresans tesir kesiti ve fluoresans verimi, Kß/K? X-ışını şiddet oranı, Kß enerji kaymaları ED-XRF tekniği kullanılarak araştırıldı.Numuneler 55Fe radyoizotop halka kaynağından yayımlanan 5,95 keV enerjili ışınlar ile uyarıldı ve numunelerden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, rezolüsyonu 5.9 keV'de 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı.Bu çalışmada K kabuğu X- ışını flüoresans parametreleri ölçüldü. Elde edilen değerler diğer araştırmacıların teorik ve deneysel değerleri ile karşılaştırıldı. Deneysel sonuçlar kimyasal etkiyle açıklanmaya çalışıldı. Safların ile bileşiklerin şiddet oranlarındaki değişimin kimyasal etkiden kaynaklandığı gözlemlendi.