XRF ile ilgili atomik parametreler ve K tabakası osilatör şiddetlerinin belirlenmesi
Bu tez size mi ait?
Bu kayıt toplu arşivden geldi. Sizinse profilinize bağlayın.
Özet (TR)
Atomik parametreler iki farklı teknik kullanılarak belirlenmiştir. Bu tekniklerin ilki olan X-ışını azaltma tekniği ile Cd, In, Sn, Sb, Te, La, Ce, Pr, Nd ve Sm elementleri için K tabakası soğurma kıyısı civarında kütle soğurma katsayıları, azaltma tesir kesitleri, fotoelektrik tesir kesitleri, K tabakası azaltma tesir kesitleri, K tabakası fotoelektrik tesir kesitleri, K tabakası soğurma sıçrama oranları, soğurma sıçrama faktörleri ve osilatör şiddetleri deneysel olarak, K tabakası soğurma kıyısı enerjileri ise yarı deneysel olarak belirlenmiştir. Ölçümlerde Am-241 halka kaynağından yayımlanan 59,54 keV enerjili fotonlar kullanılarak atom numarası 39≤ Z ≤68 aralığında olan bazı elementler uyarılmıştır. Elementlerden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, aktif çapı 4 mm ve 5,9 keV'de yarı yükseklikteki tam genişliği (FWHM) 160 eV olan Si(Li) dedektör vasıtasıyla sayılmıştır. Elde edilen deneysel değerler hesaplanan teorik değerlerle ve literatürden elde edilebilen diğer deneysel ve teorik değerler ile karşılaştırılmıştır. K tabakası sıçrama oranlarının, sıçrama faktörlerinin ve osilatör şiddetlerinin artan atom numarası ile azaldığı gözlemlenmiştir. İkinci teknik olan EDXRF tekniği kullanılarak Cd, In, Sn, Sb, Te, La, Ce, Pr, Nd ve Sm elementleri için K tabakası floresans tesir kesitleri σ_Kα, σ_Kβ ve σ_Ktoplam, K tabakası floresans verim değerleri ω_K ve I_Kβ⁄I_Kα şiddet oranı değerleri uygun geometride incelenmiştir. K tabakası floresans verim değerleri ve I_Kβ⁄I_Kα şiddet oranı değerleri ile X-ışını azaltma tekniği ile ölçülen K tabakası soğurma sıçrama faktörleri kullanılarak Kα ve Kβ uyarma faktörleri deneysel olarak belirlenmiştir. Elde edilen deneysel değerler, hesaplanan teorik değerler ve literatürden elde edilebilen diğer deneysel ve teorik değerlerle karşılaştırılmış ve uyum içinde oldukları gözlemlenmiştir. K tabakası floresans tesir kesitlerinin, floresans verimlerinin, I_Kβ⁄I_Kα şiddet oranlarının ve Kα ve Kβ uyarma faktörlerinin artan atom numarası ile arttığı gözlemlenmiştir.
Yazar
Mehmet Fatih Turhan
Kurum
Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır
Mehmet Fatih Turhan (Doktora Tezi). XRF ile ilgili atomik parametreler ve K tabakası osilatör şiddetlerinin belirlenmesi, 2017, Atatürk University.
Anahtar Kelimeler
Lisans
Tüm Hakları Saklıdır
Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.
Atatürk University tezlerinden daha fazlası
- 6098 sayılı Türk Borçlar Kanunu kapsamında kira sözleşmesinde kiraya verenin borçları özellikle ayıptan sorumluluğu(2017)
- Mide adenokanseri gelişimi üzerine nervus vagusun etkisinin analizi(2017)
- Investigation of The Performance of Roller Compacted Concrete (RCC) Pavements Containing Waste Rubber(2024)
- An experimental investigation of the south wall of building integrated with phase change material(2019)
- Sultan Ahmed Celayir Dönemi ve Celayirli - Timurlu İlişkileri(2017)
- Mevsılî'nin Muhtar adlı eserinin ibâdât ve muamelât bölümlerinde İmameyn'in ihtilafı olan yerlerin tespit ve tahlîli(2017)
