DoktoraAçık Erişim

XRF ile ilgili atomik parametreler ve K tabakası osilatör şiddetlerinin belirlenmesi

2017
0 görüntülenme
0 i̇ndirme
Danışman: Prof. Dr. Rıdvan Durak

Özet (TR)

Atomik parametreler iki farklı teknik kullanılarak belirlenmiştir. Bu tekniklerin ilki olan X-ışını azaltma tekniği ile Cd, In, Sn, Sb, Te, La, Ce, Pr, Nd ve Sm elementleri için K tabakası soğurma kıyısı civarında kütle soğurma katsayıları, azaltma tesir kesitleri, fotoelektrik tesir kesitleri, K tabakası azaltma tesir kesitleri, K tabakası fotoelektrik tesir kesitleri, K tabakası soğurma sıçrama oranları, soğurma sıçrama faktörleri ve osilatör şiddetleri deneysel olarak, K tabakası soğurma kıyısı enerjileri ise yarı deneysel olarak belirlenmiştir. Ölçümlerde Am-241 halka kaynağından yayımlanan 59,54 keV enerjili fotonlar kullanılarak atom numarası 39≤ Z ≤68 aralığında olan bazı elementler uyarılmıştır. Elementlerden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, aktif çapı 4 mm ve 5,9 keV'de yarı yükseklikteki tam genişliği (FWHM) 160 eV olan Si(Li) dedektör vasıtasıyla sayılmıştır. Elde edilen deneysel değerler hesaplanan teorik değerlerle ve literatürden elde edilebilen diğer deneysel ve teorik değerler ile karşılaştırılmıştır. K tabakası sıçrama oranlarının, sıçrama faktörlerinin ve osilatör şiddetlerinin artan atom numarası ile azaldığı gözlemlenmiştir. İkinci teknik olan EDXRF tekniği kullanılarak Cd, In, Sn, Sb, Te, La, Ce, Pr, Nd ve Sm elementleri için K tabakası floresans tesir kesitleri σ_Kα, σ_Kβ ve σ_Ktoplam, K tabakası floresans verim değerleri ω_K ve I_Kβ⁄I_Kα şiddet oranı değerleri uygun geometride incelenmiştir. K tabakası floresans verim değerleri ve I_Kβ⁄I_Kα şiddet oranı değerleri ile X-ışını azaltma tekniği ile ölçülen K tabakası soğurma sıçrama faktörleri kullanılarak Kα ve Kβ uyarma faktörleri deneysel olarak belirlenmiştir. Elde edilen deneysel değerler, hesaplanan teorik değerler ve literatürden elde edilebilen diğer deneysel ve teorik değerlerle karşılaştırılmış ve uyum içinde oldukları gözlemlenmiştir. K tabakası floresans tesir kesitlerinin, floresans verimlerinin, I_Kβ⁄I_Kα şiddet oranlarının ve Kα ve Kβ uyarma faktörlerinin artan atom numarası ile arttığı gözlemlenmiştir.

Yazar

Dr. Mehmet Fatih Turhan

Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır

Mehmet Fatih Turhan (Doktora Tezi). XRF ile ilgili atomik parametreler ve K tabakası osilatör şiddetlerinin belirlenmesi, 2017, Atatürk University.

Anahtar Kelimeler

Lisans

Tüm Hakları Saklıdır

Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.

Atatürk University tezlerinden daha fazlası