Al0.47Ga0.53N Schottky fotodedektör yapının optik ve morfolojik özellikleri
2010
0 views
0 downloads
Advisor: Prof. Dr. Mehmet Çakmak
Abstract (TR)
Bu tez çalışmasında, Al0.47Ga0.53N üçlü alaşımının oda sıcaklığında, 800, 900, 960 C' de 240 sn tavlama işlemleri uygulanarak, yüzey morfolojisi ve PL spektrumundaki değişim incelenmiştir. Her bir tavlama işleminden sonra alaşımın karakterizasyonu için Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve Fotolüminesans (PL) teknikleri kullanıldı. Tavlama sıcaklığına bağlı olarak yüzey pürüzlülüğü önemli ölçüde azaldı ve PL şiddetinde de tavlamaya bağlı olarak önemli bir artış gözlendi.Anahtar Kelimeler : AFM, FL, AlGaN, yüzey, dedektör
Author
Dr. Mehmet Şeftalici
How to Cite
Mehmet Şeftalici (Yüksek Lisans Tezi). Al0.47Ga0.53N Schottky fotodedektör yapının optik ve morfolojik özellikleri, 2010, Gazi University.
Keywords
License
Tüm Hakları Saklıdır
This work is shared under the specified license terms.
More theses from Gazi University
- Türkiye petrol ve gaz sondaj sahası iş kazaları analiz ve modellemesi(2021)
- Experimental development of the interfacial bond-slip model between textile reinforced mortar strips and masonry walls(2025)
- XVI. yüzyıl Anadolu'sunda Oğuzların Karkın Boyu(2004)
- Yarıiletken nem sensörlerinin geliştirilmesi(2021)
- Bilgisayar destekli ve doğrudan strateji öğretimimin okuduğunu anlamaya etkisi(2021)
- Gerçek hayattaki geometri örneklerinin sosyal bir öğrenme ortamı aracılığıyla paylaşımı: Bir durum çalışması(2021)