Yüksek LisansAçık Erişim

Al0.47Ga0.53N Schottky fotodedektör yapının optik ve morfolojik özellikleri

Bu tez size mi ait?

Bu kayıt toplu arşivden geldi. Sizinse profilinize bağlayın.

2010
0 görüntülenme
0 i̇ndirme

Özet (TR)

Bu tez çalışmasında, Al0.47Ga0.53N üçlü alaşımının oda sıcaklığında, 800, 900, 960 C' de 240 sn tavlama işlemleri uygulanarak, yüzey morfolojisi ve PL spektrumundaki değişim incelenmiştir. Her bir tavlama işleminden sonra alaşımın karakterizasyonu için Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve Fotolüminesans (PL) teknikleri kullanıldı. Tavlama sıcaklığına bağlı olarak yüzey pürüzlülüğü önemli ölçüde azaldı ve PL şiddetinde de tavlamaya bağlı olarak önemli bir artış gözlendi.Anahtar Kelimeler : AFM, FL, AlGaN, yüzey, dedektör

Yazar

Mehmet Şeftalici

Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır

Mehmet Şeftalici (Yüksek Lisans Tezi). Al0.47Ga0.53N Schottky fotodedektör yapının optik ve morfolojik özellikleri, 2010, Gazi University.

Anahtar Kelimeler

Lisans

Tüm Hakları Saklıdır

Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.

Gazi University tezlerinden daha fazlası