Al0.47Ga0.53N Schottky fotodedektör yapının optik ve morfolojik özellikleri
2010
0 görüntülenme
0 i̇ndirme
Danışman: Prof. Dr. Mehmet Çakmak
Özet (TR)
Bu tez çalışmasında, Al0.47Ga0.53N üçlü alaşımının oda sıcaklığında, 800, 900, 960 C' de 240 sn tavlama işlemleri uygulanarak, yüzey morfolojisi ve PL spektrumundaki değişim incelenmiştir. Her bir tavlama işleminden sonra alaşımın karakterizasyonu için Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve Fotolüminesans (PL) teknikleri kullanıldı. Tavlama sıcaklığına bağlı olarak yüzey pürüzlülüğü önemli ölçüde azaldı ve PL şiddetinde de tavlamaya bağlı olarak önemli bir artış gözlendi.Anahtar Kelimeler : AFM, FL, AlGaN, yüzey, dedektör
Yazar
Dr. Mehmet Şeftalici
Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır
Mehmet Şeftalici (Yüksek Lisans Tezi). Al0.47Ga0.53N Schottky fotodedektör yapının optik ve morfolojik özellikleri, 2010, Gazi University.
Anahtar Kelimeler
Lisans
Tüm Hakları Saklıdır
Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.
Gazi University tezlerinden daha fazlası
- Türkiye petrol ve gaz sondaj sahası iş kazaları analiz ve modellemesi(2021)
- Experimental development of the interfacial bond-slip model between textile reinforced mortar strips and masonry walls(2025)
- XVI. yüzyıl Anadolu'sunda Oğuzların Karkın Boyu(2004)
- Yarıiletken nem sensörlerinin geliştirilmesi(2021)
- Bilgisayar destekli ve doğrudan strateji öğretimimin okuduğunu anlamaya etkisi(2021)
- Gerçek hayattaki geometri örneklerinin sosyal bir öğrenme ortamı aracılığıyla paylaşımı: Bir durum çalışması(2021)