Düzlem malzemelerin ekranlama özelliklerinin ölçümü için TEM hücre tasarımı

Ekranlama etkinliği ölçümlerinde kullanılacak yöntem belirlenirken, ekran malzemesinin büyüklüğü ve şekli ile birlikte maliyet, uygulanabilirlik, zaman tüketimi ve malzemenin kullanılacağı frekans aralığı özellikleri dikkate alınmaktadır. Boş uzay ve ekranlı oda yöntemleri en temel ekranlama etkinliği ölçüm yöntemlerindendir. Ancak, kullanılan yansımasız test odalarının ve test düzeneği donanımlarının oldukça maliyetli olması nedeniyle yeni yöntemlerin geliştirilmesi ihtiyacı doğmuştur. Bu bağlamda, ekran malzemesinin büyüklüğü ve şekli göz önünde bulundurulduğunda, düzlem malzemelerin küçük boyutlarda numunelerinin alınarak testlerde kullanılabilmesi uygulanabilirlik ve maliyet açısından kazanç sağlamaktadır. Tüm bu nedenlerden dolayı, düzlem malzemelerin ekranlama etkinliği değerlendirilirken eş eksenli iletim hattı yöntemleri ve ikili TEM hücresi yöntemi gibi daha düşük maliyetli ve yapısal olarak daha basit yöntemler geliştirilmiştir. Bu çalışma kapsamında ikili TEM hücresi metodundan farklı olarak, iletim yoluyla ekranlama etkinliği yöntemini benimseyen tek bir TEM hücresinin eş iki parça halinde kullanılması ile ortaya çıkan Ayrık TEM hücresi (TEM-t) metodu üzerinde çalışılmıştır. TEM hücresi yapısal olarak orta noktasından simetrik bir şekilde ikiye ayrılmıştır. Test edilen ekran malzemeleri iletim hattının orta noktasına yerleştirilir. Hem referans hem de test edilen ekran malzemesi ile birlikte yapılan ölçümler sonucunda ekranlama etkinliği ölçümlerinin gerçekleştirilmesi amaçlanmıştır. Bu çalışma ile, ayrık TEM hücresi üretilmiştir. Bu çalışmanın amacı ise küçük boyutlardaki düzlem malzemelerin ekranlama özelliklerini, tasarımı ve üretimi gerçekleştirilen TEM-t hücreleri ile analiz etmektir.