Farklı çözücüler ve farklı kaplama kalınlıklarının, sol-jel yöntemi ile üretilen er katkılı ZnO tabanlı yarıiletken nano ince filmlerinin yapısal, elektrik ve optik özellikleri üzerine etkisi

Yaptığımız çalışmada, nano boyutlu malzemelerin hazırlanmasında yaygın olarak kullanılan yöntem olan sol-gel yöntemi ile daldırılarak kaplama sistemi kullanılarak 𝐸𝑟 (Erbiyum) katkılı 𝑍𝑛𝑂 tabanlı yarıiletken nano ince filmler üretilmiştir. 𝑍𝑛1−𝑥𝐸𝑟𝑥𝑂 sistemli ince filmler farklı çözücüler kullanılarak farklı kaplama kalınlıklarında hazırlanmıştır. Yapılan katkılanmanın ve film kalınlığının yapısal, elektrik ve optik özellikleri üzerine etkileri detaylı bir şekilde incelenmiştir. Karşılaştırma yapmak için aynı şartlarda katkısız numune de üretilmiştir. Üretilen yarıiletken nano ince filmlerin faz analizi ve örgü parametrelerinin belirlemesi için 𝑋 ışınları kırınımı analizi (𝑋𝑅𝐷), mikroyapı incelemeleri için ise taramalı elektron mikroskobu (𝑆𝐸𝑀) ölçümleri yapılmıştır. Elektriksel özelliklerini belirlemek için özdirenç, optik özelliklerini belirlemek için ise geçirgenlik ölçümleri gerçekleştirilmiştir