İletken tarafından gerçekleştirilen katı dielektrik malzemelerin belirli frekanslarda dielectric sabitinin belirlenmesi

Düşük kayıplı malzemelerin kısa devre sonlandırması ile karmaşık geçirgelik tespiti için sadece genlik yansıma ölçümlerine dayanan bir yöntem sunduk. Önerdiğimiz bu yöntemin avantajları ve dejavantajları mevcuttur. İlk avantajı, belirli bir frekansa bakıldığı için max ve min frekansları elde edip daha kolay derivasyon yapabiliriz. İkinci avantajı ise hesaplama gerektirmemesidir. Önerilen bu yöntemin dejavantajı ise geniş bant aralığı kullanmamızı gerektirmesi ve yüksek dielektirik sabitine sahip malzemelere daha uygun bir yöntem olmasıdır. Reflektif Method'tan yararlandığımız bu yöntemde, bir dalga kılavuzun bölümüne yerleştirilmiş düşük kayıplı bir malzemenin (silikon) X_bandında karmaşık ve sadece genlik saçılma parametresi ölçümleri hesaplanıp numerik analiz ile desteklenmiştir. Diğer rezonans olmayan yöntemler gibi yöntem, düşük kayıplı numuneler için geçirgenliğin hayali kısmının kaba bir göstergesi olabilir.