Katkısız ve katkılı (Sb) Ge tek kristallerin büyütülmesi, yapısal ve optik özelliklerinin incelenmesi

Bu çalışmada, katkılı ve katkısız Ge tek kristalleri Czochralski (CZ) kristal büyütme tekniği ile büyütüldü. (111) yönelimli büyütülen Ge tek kristallerin, yapısal ve optik özellikleri yüksek çözünürlüklü X-ışını kırınımı (HRXRD), Fourier dönüşümlü kızılötesi spektroskopi (FTIR) ve spektroskopik elipsometre (SE) analiz yöntemleri ile karakterize edildi. Katkısız ve Sb katkılı Ge tek kristaller için HRXRD ölçümlerinden elde edilen w-2q X-ışını kırınım desenlerinden kristallerin 111 yöneliminde büyüdüğü görüldü ve örgü parametresi bulundu. FTIR analizleri sonucunda 2-12 µm aralığında optik geçirgenliğin >%45 olduğu görüldü. SE analiz yöntemiyle kristallerin kırılma indisi ve yasak enerji aralığı bulundu. Tüm bu sonuçlarla üretilen Ge tek kristallerin kızıl ötesi sistemlerde mercek veya optik pencere kullanımına uygun olduğu görüldü.