Sayısal görüntülerde piksel yolu çıkarma esaslı boyut değişikliği tespiti

Piksel yolu çıkarma (seam carving), günümüzde en çok uygulanan içeriğe duyarlı görüntü boyutlandırma yöntemlerinden biridir. Piksel yolu çıkarmanın sebep olduğu bozukluklar çok yüksek oranlarda ölçekleme yapılmadıkça insan gözü tarafından algılanamaz. Bu görsel başarının sebebi görüntüdeki piksellerin önem değerlerine göre değerlendiriliyor olmasıdır. Görüntünün optimal seam'i, görüntü genelinde toplamda en az enerji (önem) değerine sahip piksel yoludur. Tek piksel genişliğindeki önemsiz bu piksel yolları birer azaltılarak her iterasyonda görüntünün genişliği ya da yüksekliği bir azaltılır. Anlamsal olarak önemli olan ön plan nesnelerine mümkün olduğunca dokunulmaz. Görüntünün içeriğinin bu denli korunduğu bir ölçekleme yaklaşımı kötü niyetli olarak da kullanılabileceğinden, bu şekilde ölçeklenmiş görüntülerin tespiti büyük önem arz etmektedir. Piksel yolu çıkarma tabanlı ölçeklemenin tespiti diğer ölçekleme yöntemlerine göre oldukça zordur; çünkü görüntülerin geometrik açıdan ele alınması yetmez, anlamsal bir değerlendirme içeren detaylı bir analiz yapılması gerekmektedir. Bu çalışmada, piksel yolu çıkarılarak boyutları değiştirilmiş görüntülerin tespiti, görüntülerden özellik çıkarılması ve çıkarılan özelliklerle Destek Vektör Makinesi'nin eğitilmesi şeklinde gerçekleştirilmektedir. Çıkarılan özellikler piksel yolu çıkarma algoritmasının uygulanışı ile alakalı özelliklerdir. Ayrıca, yöntemin başarımını artırmak amacıyla, özellik çıkarımı öncesinde görüntülere Yerel İkili Örüntüler dönüşümü uygulanmış ve piksel yolu çıkarmanın sebep olabileceği yerel bozukluklar belirginleştirilmiştir. Tüm bunlara ek olarak, piksel yolu çıkarmanın görüntülerin farklı parçalarındaki etkileri de incelenmiştir. Bu amaçla görüntüler şeritlere ayrılarak her bir şerit seam özellikleri bakımından değerlendirilmiş ve tespit doğrulukları bu şekilde oldukça artırılmıştır. Geliştirilen yöntem ile piksel yolu çıkarma tabanlı ölçekleme %30 ölçeklenmiş görüntülerde %99,9'lara kadar tespit edilebilmiştir. Performans literatürdeki diğer yöntemlere göre ortalamada %20'den fazla artırılmıştır. Tespit performansı özellikle tespit edilmesi daha zor olan %3, %6 gibi küçük ölçekleme oranlarında %26 geliştirilmiştir.