Yüksek LisansAçık Erişim

Hassas imalatlarda işparçası yüzeylerinin mikronaltı boyutlarda değerlendirilmesi

2006
0 görüntülenme
0 i̇ndirme
Danışman: Yrd. Doç. Dr. Zeki Kıral

Özet (TR)

Optik ölçme sistemleri, günümüz koordinat ölçme sistemlerinin önde gelen teknolojilerinden birisidir. Bu teknoloji otuz yıllık mazisine karşılık inanılmaz bir ivme ile gelişmektedir. Ancak bu derece hızla gelişen bir teknolojinin vermiş olduğu sonuçların, hali hazırda standartları mevcut, gelişmiş bir dokunmatik ölçme sisteminin sonuçları ile karşılaştırılması, üretim ve ölçüm kalitesinin sağlanması açısından son derece önemlidir. Dolayısı ile bu tez optik sistemlerin standardizasyonu açısından küçük bir adım olarak değerlendirilebilir. Bu amaçla değişik yüzey profiline sahip (periyodik ve periyodik olmayan), farklı malzemelreden üretilmiş (aluminyum ve demir), farklı yansıtma özelliklerine sahip (parlak, mat ve siyah), farklı işleme hızları ve teknikleriyle işlenmiş malzemelerin pürüzlülük değerleri bu iki sistem vasıtasıyla ayrı ayrı değerlendirilmiştir. Yapılan karşılaştırmalı deneyler sonucunda, iki sistemin yansıtma değerleri iyi olan ve çok hassas işlenmemiş (özellikle periyodik yüzey profiline sahip deneklerde) malzemelerde birbiriyle örtüşen sonuçlar verdiği gözlemlenmiştir. Ayrıca yüzeyin çizilmemiş veya başka bir sebeple hasar görmemiş olmasına dikkat edilmelidir. Hassas işlenmiş, periyodik bir profile sahip yüzeylerde, dokunmatik ölçme sistemlerinin ekstrem değerleri algılamayarak,sadece baskın profile ait prüzlülük değerlerini verdiği ve bu sebeple bu ekstrem değerleri algılayabilen optik sistemler ile örtüşen sonuçlar veremediği yorumuna varılmıştır. Sonuç olarak dokunmatik ölçme ucunun geometrik yapısından kaynaklanan yetersizliği tecrübe edilmiştir, bu durum günümüz üretim teknolojileri ile ışığın dalga boyu ölçülerinde bir dokunma ucunun yaratılmasının mümkün olmamasının doğal sonucudur.

Yazar

Dr. Hakan Göçerler

Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır

Hakan Göçerler (Yüksek Lisans Tezi). Hassas imalatlarda işparçası yüzeylerinin mikronaltı boyutlarda değerlendirilmesi, 2006, Dokuz Eylül University.

Anahtar Kelimeler

Lisans

Tüm Hakları Saklıdır

Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.

Dokuz Eylül University tezlerinden daha fazlası