DoctorateOpen Access

Fast and accurate statistical timing analysis of digital circuits for timing yield estimation based on transistor level simulations

2010
0 views
0 downloads
Advisor: Doç. Dr. Alper Demir ; Yrd. Doç. Dr. Serdar Taşıran

Abstract (TR)

Tümleşik devre (yonga) teknolojisi, devrelerde kullanılan transistörlerin boyutu bakımından mikron altı rejime indikçe tümleşik devre üretim işlemi, yongaların hız performanslarında belirsizliğe sebep olan devre parametreleri değişkenliklerinden muzdarip hale gelmektedir. Üretim işlemindeki istatistiksel değişkenliklerin göz ardı edilemez seviyelere ulaşması bu değişkenlikleri hesaba katan istatistiksel zamanlama analizini zorunlu kılmıştır. Parametre değişkenliklerinin bir sonucu olarak aynı devreye ait olan üretilmiş her yonga farklı parametre değerlerine ve dolayısıyla farklı bir hız performansına sahiptir. Hız testinde başarılı olan yongalar satış için paketlenirken başarısız olanlar atılır. İstatiksel zamanlama analizinin ana amaçlarından birisi hız testlerini geçecek yongaların oranı olan zamanlama verimini tahmin etmektir. Sayısal devreler için önerilmiş olan istatiksel zamanlama analizlerinin neredeyse hepsi blok (mantık geçidi) düzeyinde çalışan metotlardır ve bunlara istatiksel statik zamanlama analizi ismi verilir, çünkü bu metotlar istatiksel olmayan statik zamanlama analizinin istatiksel duruma doğrudan genellemeleridir. Ancak blok düzeyi istatiksel zamanlama analizi birçok yaklaşım ve tahmin içermesi sebebiyle doğruluktan yoksundur. Bu tezde, transistör düzeyinde devre simülasyonlarına dayalı doğru istatistiksel zamanlama analizi boşluğunu doldurmaya çalışıyoruz. Bu amaçla, ilk olarak, bir devre içindeki değişkenlikleri modellemek ve istatistiksel olarak kritik olan yolları belirlemek için literatürdeki farklı teknikleri birleştiren yeni ve kapsamlı bir istatistiksel zamanlama analizi aracı öneriyoruz. Ama bizim esas orijinal katkımız, zamanlama verimini doğru ve hızlı bir şekilde tahmin eden bir metot elde etmek için önem örneklemesi yöntemini farklı bir şekilde transistör düzeyi Monte Carlo istatiksel zamanlama analizinin hızını arttırmak için kullanmaktır. Metodumuzu ISCAS'85 değerlendirme devrelerinde test ettik ve sonuçlar bizim önem örneklemesi tabanlı zamanlama verimi tahmin metodumuzun hızı ortalama 150 kat arttırdığını gösterdi.

Author

Dr. Alp Arslan Bayrakçi

How to Cite

Alp Arslan Bayrakçi (Doktora Tezi). Fast and accurate statistical timing analysis of digital circuits for timing yield estimation based on transistor level simulations, 2010, Koç University.

License

Tüm Hakları Saklıdır

This work is shared under the specified license terms.

More theses from Koç University