Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan Cu2S ince filmlerin optik özelliklerinin elipsometrik incelenmesi

Bu çalışmada vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan Cu, Cu2S/Cu ve Cu2S filmlerinin optik özellikleri elipsometrik ve spektrofotometrik yöntemlerle incelenmiştir. Bundan başka Cu2S ince filmlerin yapısal verileri X-ışını difraktometresiyle elde edildi. Cu ve Cu2S/Cu sistemlerinin görünür ışık bölgesindeki optik özelliklerinin foton enerjisi ile değişimi elipsometrik yöntemle belirlenmiştir. Opak Cu filmin ve elipsometrik parametrelerinin gelme açısıyla değişiminden belirlenen asal gelme açısı değerinin 66,8 ? olduğu bulunmuştur. Farklı sıcaklıktaki cam taşıyıcılar üzerinde elde edilen Cu2S ince filmlerinin yasak band aralığı optik absorpsiyon ölçümlerinden belirlenmiştir. Cu2S ince filmlerin belirlenen yasak band aralığı değerlerinin 2,48-2,52 eV enerji aralığında olduğu ve literatürde verilen sonuçlarla uyumlu olduğu görülmüştür (Bagul, Chavhan, Sharma, 2007; Zhuge, Li, Gao, Gan, Zhou, 2009). Büyütülen filmlerin X-ışını kırınım difraktometresi ile belirlenen kırınım desenleri büyüyen fazın Cu2S olduğunu göstermiştir.Anahtar SözcüklerElipsometri, ince filmler, optik özellikler