Investigation of lateral forces in dynamic mode AFM/STM

Bu doktora çalışmasında uç, ile yüuzey arası yatay kuvvetleri küçük genlikle titreştirerek ölçebilen ¯ber optik interefrometre kullanan Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskobu (YD-AKM)/Taramalı Tünelleme Mikroskobu(TTM) imal edilerek, bununla Si(111)-(7×7) yüzeyinde yatay kuvvetler incelenmiştir. Geliştirilen interferometre daha önce dik kuvvet ölçümede kullanılana göre çok daha hassastır. Elde edilen bu yüksek ölçüm hassasiyeti nedeniyle yay Angstrom alti genliklerle titreştirilerek yatay uç-yüzey etkileşimleri nicemsel olarak ölçülebilmiştir. Si(111)-(7×7) yüzey topografi ve yatay esneklikte görüntülerinde tek ve çift atomik basamakları nicemsel olarak gözlenmiştir. Uç yüzeye yaklaştırılarak uç-yüzey yatay yay etkileşim yay sabiti ve tünel akımı uzaklığın fonksiyonu olarak ölçülmüştür. Yatay yay sabitinde tünel akımından sonra hızlı bir yükselme gözlenmiştir. Deneylerimizde yalnızca pozitif yatay yay sabiti gözlenmiştir. Diğer deneylerimizde ise yatay kuvvetleri yayın bükülmesini ölçerek çalişan bir dinamik kuvvet mikroskobu ve elde yapılan bir tungsten yay kullanılarak Cu- TBPP moleküllerininin Cu(100) yüzeyi ile olan etkileşimleri incelenmiştir. Deneylerimiz Cu-TBPP molekÄullerininin titreıen yay kulllanılarak Cu(100) yüzeyinde hareket ettirilebileceğini göstermiştir. Fakat Basel Üniversitesindeki bu düzenek ile bu kuvvetleri nicemlendirmek mümkün olamamıştır.