Yüksek LisansAçık Erişim

AlGaN schottky fotodedektör yapının optiksel ve yüzeysel özellikleri

2007
0 görüntülenme
0 i̇ndirme
Danışman: Doç.dr. Mehmet Çakmak

Özet (TR)

Al0.52Ga0.48N SCHOTTKY FOTODETEKTÖR YAPININ OPTİKSEL VEYÜZEYSEL ÖZELLİKLERİ(Yüksek Lisans Tezi)Burcu YILDIRIMGAZİ ÜNİVERSİTESİFEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜŞubat 2007ÖZETBu çalışmanın amacı, Al0,52Ga0,48N üçlü alaşımının tavlama işlemi uygulanarakyüzey morfolojisinin ve PL spektrumundaki değişimin araştırılmasıdır.Alaşımın oda sıcaklığında, 800, 900, 960 0C'de 240 sn tavlandıktan sonraAtomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve Fotolüminesans (PL) ölçümlerialınmıştır. Tavlama sıcaklığına bağlı olarak yüzey pürüzlülüğü önemli ölçüdeazaldı. Bununla birlikte PL şiddeti tavlamaya bağlı olarak önemli bir artışgösterdi.Bilim Kodu : 202.1.147Anahtar Kelimeler : Yüzey, AlGaN, Fotolüminesans, DedektörSayfa Adedi : 49Tez Yöneticisi : Doç. Dr. Mehmet ÇAKMAK

Yazar

Dr. Burcu Yıldırım

Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır

Burcu Yıldırım (Yüksek Lisans Tezi). AlGaN schottky fotodedektör yapının optiksel ve yüzeysel özellikleri, 2007, Gazi University.

Anahtar Kelimeler

Lisans

Tüm Hakları Saklıdır

Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.

Gazi University tezlerinden daha fazlası