Otokorelasyonlu veriler için kontrol kartlarının kıyaslanması

Günümüzde ölçme tekniklerinin gelişmesiyle birlikte örnekleme aralıkları da kısalmıştır, bu durum veri seti içinde otokorelasyona yol açmaktadır. Ayrıca, kimyasal süreçlerde ve rafineri operasyonlarında olduğu gibi bazı endüstrilerde otokorelasyon sürecin doğasından kaynaklanmaktadır. Otokorelasyonla başa çıkabilmek için, son dönemlerde mevcut kalite kontrol kartları iyileştirilmekte veya yeni kontrol kartları geliştirilmektedir. X artık ve EWMA artık gibi kontrol kartları otokorelasyonlu gözlemler için sıkça kullanılan kartlardandır. Bunların dışında, son yıllarda bu tip gözlemler için EWMAST, ARMAST ve DFTC kartları geliştirilmiştir. Kontrol kartı kıyaslamaları araştırmacılar tarafından büyük ilgi görmüştür. Literatürde birçok kıyaslama çalışması bulunmasına rağmen, bu çalışmaların pek azında otokorelasyon yapısı birinci dereceden otoregresif hareketli ortalama modeline uymaktadır.Bu araştırmanın amacı, Shewhart X, CUSUM, X artık, EWMA artık, EWMAST, ARMAST, ve DFTC kartlarını ARMA (1,1) süreci için ve süreç ortalamasından sapma olduğu durumda kıyaslamaktır. Kıyaslama için kullanılan performans ölçüsü ortalama koşum uzunluğudur.