Tüketici elektroniğinde tasarım erken dönemlerinde güvenilirlik problemlerinin belirlenmesi amacıyla test metotlarının tasarlanması

Günümüzde tüketici elektroniği pazarı, hızla gelişen teknoloji, artan üretici sayısı ve yüksek müşteri beklentileri sebebiyle aşırı rekabetçi hale gelmiştir. Bu rekabetçi pazar koşulları altında şirketler ürünlerinin kalitesini ve güvenilirlik seviyesini korumaya ve geliştirmeye çalışmaktadırlar. Ürünlerin tasarımda üretime geçiş zamanları oldukça kısalmıştır. Maliyet düşürme çalışmaları, alternatif malzemeler, yeni ek özellikler gibi hızlı tasarım değişiklikleri sebebiyle güvenilirlik testlerinde kullanılan klasik yaklaşım, ürünler için istenilen güvenilirlik seviyesini sağlayamaz ve ihtiyaçlara yeterli hızda cevap veremez. Müşterinin ihtiyaçlarını uzun süre karşılayabilen hatalarından arındırılmış ve sağlam ürünler geliştirmek ve yeni ürünlerin güvenilirliklerini eski ürünler ile karşılaştırabilmek amacıyla güvenilirlik için yeni bir metot geliştirme ihtiyacı oluşmuştur. Bu faktörleri birleştiren, Olgunluk Seviyesi veya Hata Risk Faktörü isimli, yeni bir parametre geliştirilmiştir ve sonrasında bu parametre klasik güvenilirlik tahmin metotlarıyla birleştirilmiştir. Özellikle yeni yaklaşım AR-GE aşamasında yapılan, donanım ve yazılım testlerinden oluşan, nitel güvenilirlik testlerini ele almaktadır ve basit matematiksel yaklaşımlar ile diğer güvenilirlik tahmin metotları ile birleştirilmişlerdir. Sonuç olarak, yeni yaklaşımın klasik tahmin metotlarına göre daha kesin tahmin sonuçları vermesi beklenmektedir. Bu tahmin modeliyle güvenilirlik analistleri, ürünlerinin güvenilirliklerini ve geri dönüş oranlarını hakkında daha kesin tahminlerde bulunabileceklerdir.