İntegral denklem metodu (IEM) kullanılarak MMIC devrelerin analizi

ÖZETDoktora TeziİNTEGRAL DENKLEM METODU (IEM) KULLANILARAK MMIC DEVRELERİNANALİZİZülfü GENÇFırat ÜniversitesiFen Bilimleri EnstitüsüElektrik-Elektronik Mühendisliği Anabilim Dalı2006, Sayfa: 79Bu çalışmada, düzlemsel katmanlı ortamdaki mikrodalga devrelerin karma potansiyelintegral denklemi (MPIE) kullanılarak tam dalga analizini gerçekleştiren ve nümerik açıdanverimli bir bilgisayar destekli tasarım (CAD) yazılımı geliştirilmiştir. Kullanılan nümerik teknikkapalı formdaki vektörel ve skaler Green fonksiyonları ilişkilidir ve karma potansiyel integraldenklemini çözmek için uzay tanımı moment yöntemi kullanılmıştır. Düzlemsel katmanlıortamdaki mikrodalga devrelerinin analizi, kapalı formdaki uzay tanımı Green fonksiyonlarınfrekans tanımındaki karşılıklarından Sommerfeld özdeşliği kullanılarak elde edilmesi ile başlar.Katmanlı ortam için yazılan MPIE integral denklemindeki bilinmeyen akım yoğunluğubilinmeyen katsayılı bilinen temel fonksiyonlar cinsinden açıldıktan sonra test işlemi olarakadlandırılan sınır koşullarının integral duyarlılığında uygulanması ile devam eder. Elde edilenlineer matris denklemi çözülerek akım yoğunluğunun bilinmeyen katsayıları bulunur.Düzlemsel katmanlı ortamdaki geometriye ait devrenin iletkenleri üzerindeki akım yoğunluğubulunduktan sonra, devrenin giriş empedansı, S-parametreleri, ışıma deseni gibi elektrikselparametreleri hesaplanmıştır. Bu çalışmada kullanılan analiz yöntemine göre geliştirilenyazılımla, gerçekçi mikrodalga devrelerin analizi yapılmış ve elde edilen sonuçlar bu alandakullanılan ticari bir yazılım paketinin sonuçları ile karşılaştırılmıştır.Anahtar Kelimeler: Monolitik Mikrodalga Entegre Devreler (MMICs), Tam dalga analiz,Düzlemsel katmanlı ortam, Green fonksiyonları, Karma potansiyel integral denklemi (MPIE),Moment yöntemi, Bilgisayar destekli tasarım.I