Optik sistemler için tayfsal ışıma duyarlılığının araştırılması

Bu tezin amacı, polikromatik radyasyon kaynaklarının kalibrasyonların da kullanılacak ışıma duyarlılığının oluşturulması ve belirlenmesidir. Işımayı gerçekleştirirken, Ar-Ion (457, 477,488 ve 514 nm), He-Ne (543, 594, 604, 612 ve 632.8 nm) ve Nd: YAG (532 nm, 1064 nm) lazerler ve 0.15m'lik bir toplama küresi Lambertian dağılımına sahip ışıma kaynakları elde etmek için kullanılır. Daha sonra sıvı helyum soğutmalı lazer tabanlı kriyojenik radyometreye karşı izlenebilir olan silikon fotodiyot tuzak detektörü, her bir dalga boyuna karşılık gelen fotoakımı ölçmek ve böylece ışıma elde etmek için kullanılır. Bu lazer tabanlı ışımanın tayfsal akım yanıtına sahip olmak için kullanılan ölçüm sistemi, her kasasında 2 x 300 mm odak uzunluğuna ve üçlü ızgaralara sahip çift ızgaralı bir monokromatördür. Bu ölçümler için kullanılan ızgaralar 2400 g / mm ve 1200 g / mm oluk yoğunluğuna sahip olup sırasıyla 250 nm ve 500 nm olarak etkili dalga boyuna ayarlanır. Toplama küresinden çıkan lazer ışımaları, radyans olarak monokromatöre yönlendirilir ve onun çıkışında her bir dalga boyu için fotoakım olarak kayıt edilir. Lazer dalga boylarında gerçekleşen ışıma ve fotoakımdan, monokromatörün (ışıma duyarlılığı) çıkış yarığında kaydedilen değerler ile optik sistemin transfer fonksiyonu elde edilir. Monokromatör sistemi ile birlikte bu ışıma tepkisi, düşük belirsizlikle polikromatik radyasyon kaynaklarının spektral parlaklığını türetmek için kullanılır. Ayrıca bu çalışmada belirsizlik ölçeği hem klasik hem de Monte Carlo yöntemleri kullanılarak belirlenir.