Çoklu iç ilişki altında Conway-Maxwell-Poisson profillerinin denetimiMİ

Gelişen teknolojilerin endüstride uygulanması sonucunda, üretim sürecinde ortaya çıkan veriler, süreç kontrolü için aynı anda birçok sorunu ele alan yöntemlerin geliştirilmesini zorunlu kılmaktadır. Bu çalışmada, ilişkili açıklayıcı değişkenlerin neden olduğu çoklu bağlantının olumsuz etkisini azaltırken, sayım profillerindeki kontrol dışı durumları tespit etmeyi amaçlıyoruz. Bu tez çalışmasında süreç verilerini Conway-Maxwell-Poisson profili yardı-\\mı ile modellemeyi ve kontrol dışı gözlemleri belirlemek için PCR, ridge, Liu ve \textit{r-k} sınıf tahmin edicileri kullanılarak elden edilen rezidülere dayalı Shewhart, CUSUM ve EWMA kontrol grafiklerini kullanmayı öneriyoruz. Conway-Maxwell-Poisson profili farklı düzeylerdeki yayılıma sahip olan sayım verilerinin analizini kolaylaştırır-ken, yeniden düzenlenmiş PCR, ridge, Liu ve \textit{r-k} sınıf tahmin edicileri çoklu iç ilişki sorununun üstesinden gelir. Önerilen rezidüye dayalı kontrol grafiklerinin etkinliği farklı performans ölçümleri kullanılarak kapsamlı simulasyon çalışmaları ve gerçek veri kümeleri yardımı ile gösterilmiştir.