Doğrudan mikrodenetleyici bağlantısı ile hassas direnç ölçümü

Günümüzde birçok sistem ve sensorler dirençlerden oluşmaktadır. LDR ışık sensörü, sıcaklık sensörleri, platinyum sensörleri gibi bir çok sensör çeşidi direnç sisteminden oluşan sensörlere örnek olarak gösterilebilir. İçlerinde bulunan dirençlerin değerlerinin sıcaklık ve ortam koşullarının anlık değişmesine bağlı olarak çalışırlar. Bundan dolayı dirençlerin doğru ölçümü sensörlerden alınacak verilerin doğruluğu açısından büyük önem arz etmektedir. Bu tez de dirençlerin ölçümünü mikrokontroller kullanarak kapasitörü doldurup bilinen bir direnç üzerinden boşaltıp zamanı hesaplayarak daha sonra kapasitörü tekrar doldurup bilinmeyen (ölçümü yapılmak istenen) direnç üzerinden boşalma zamanlarını kıyaslayarak bilinmeyen direncin degerini RC devre analiziyle bulmaya dayalı ölçüm teknikleri araştırılmıştır. Bu ölçüm teknikleri ile daha hassas ölçüm yapmayı, yapılan ölçümlerde oluşabilecek hataları belirterek ve mevcut hataların minimize ederek direncin degerini en doğru şekilde bulunmasını amaçlamaktadır. Direnç ölçümünde oluşabilecek hatalar en düşük seviyeye getirildiğinde sensörlerden alınan veri daha dogru şekilde algılanmış olacaktır.