SiO2 tabanlı Ni81Fe19 nanometrik manyetik ince filmin ısı kapasitesinin incelenmesi
2010
0 görüntülenme
0 i̇ndirme
Danışman: Yrd. Doç. Dr. Mustafa Erol
Özet (TR)
Öz ısı malzemelerin termal karakterizasyonu için vazgeçilmez bir özelliktir. Bu çalışmada 2,5 nm ve 5,0 nm Ni81Fe19 ile kaplanmış SiO2 tabanlı ince film numunelerin bazı termal özellikleri incelendi. Numunelerin DSC (Diferansiyel Taramalı Kalorimetre) analizleri 300-800 K arasında çalışıldı. Öz Isılarının belirli ısıtma hızları için sıcaklıkla ve numune kalınlığı ile değişimi, Sürekli Referanslı Cp Ölçüm Yöntemi ile analiz edildi. Referans numune olarak safir kullanıldı. Numunelerin yapıları EDAX ve SEM analizleri ile incelendi. Ayrıca öz ısıların ısıtma hızı ile değişimi de incelendi.
Yazar
Dr. Sinan Kaya
Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır
Sinan Kaya (Yüksek Lisans Tezi). SiO2 tabanlı Ni81Fe19 nanometrik manyetik ince filmin ısı kapasitesinin incelenmesi, 2010, Yozgat Bozok University, Fizik Bölümü.
Anahtar Kelimeler
Lisans
Tüm Hakları Saklıdır
Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.
Yozgat Bozok University tezlerinden daha fazlası
- Fuzûlî'nin Leylâ ile Mecnûn mesnevisinin nesne ilişkisi kuramında incelenmesi(2024)
- Argümantasyon tabanlı bilim öğrenme yaklaşımının öğrencilerin kavramsal anlamalarına, çoklu gösterim kullanma ve argümantasyon becerilerine etkisinin incelenmesi(2024)
- Kenevir esaslı aktif karbonun boyayla duyarlılaştırılmış güneş hücrelerinde arka elektrot olarak kullanılması(2025)
- Adıyaman Gölbaşı küçük sanayi sitesi oto tamirhanelerinde görülen iş kazalarının belirlenmesi ve bunları önlemeye yönelik politikaların oluşturulması(2025)
- Genelleştirilmiş nörlund toplanabilme metodu(2012)
- Kesirli mertebeden diferensiyel denklemlerin analitik ve nümerik yöntemler ile çözümleri(2017)