Single event effect tests with ion beam and laser

Tek olay etkisi ağır iyonlar ve protonlar tarafından meydana gelen bir olaydır. Ağır iyonlar ve protonlar yarıiletken tabanlı CMOS, optoelektronik, bipolar transistörler gibi elektronik cihazlardan geçerken, enerjilerine ve türlerine bağlı olarak kalıcı olmayan veya kalıcı zararlar verebilirler. Bu sebeple, bu cihazların yeryüzünde radyasyona karşı güvenilirlikleri test edilmelidir. Cihazların test edilmesi uzayda kalacağı süre, konum ve kullanım koşulları gibi birçok faktöre bağlıdır. Test standartları NASA ve ESA gibi uzay ajansları tarafından belirlenmektedir. SPENVIS, CREME96 ve OMERE gibi yaygın olarak kullanılan bilgi sistemleri veya araçlar uzay aracının bulunduğu konumun koordinatlarına göre radyasyon ortamını analiz etmek için kullanılır. Tek olay etkisine karşı yapılan kalite testleri ağır iyonlar ile Ulusal INFN Güney Laboratuvarında (LNS) gerçekleştirildi. MAPRad laboratuvarlarında geliştirilen kızılötesi laser sistemi nitel ölçümler için çok yararlı bir araçtır. Birçok cihaz bu laser test düzeneği ile test edildikten sonra iyon testi için LNS laboratuvarlarına alındı.Bu çalışmada, iyon ve laser testi için kullanılan test düzenekleri detaylı olarak incelendi ve cihazlar iyon demeti ile test edilmeden önce bu test düzeneği GEANT4 ve FLUKA kullanılarak benzetimi yapıldı. Lineer enerji transferi (LET), depo edilen enerji, ve girişim mesafesi gibi parametreler bu similasyon programları sayesinde hesaplandı. Bu similasyonların sonuçları karşılaştırıldi ve değerlendirildi.