Kimyasal depolama yöntemi ile cus ince filmlerinin üretimi ve karakterizasyonu

Bu tezde, bakır sülfür (CuS, covellite) ince filmler, cam alt tabanlar üzerinde 27 °C (96 saat) ve 50 °C (7 saat) sıcaklıklarda farklı bakır tuz kaynakları kullanılarak kimyasal depolama yöntemi ile hazırlandı. Bakır sülfür ince filmlerin fiziksel özellikleri (yapısal, optik, morfolojik ve elektriksel) detaylı bir şekilde incelendi. X-ışını kırınım (XRD) analizlerinden filmlerin polikristal yapıda hekzagonal fazda oluştuğu tespit edildi. Filmlerin oda sıcaklığındaki optik geçirgenlik ve soğurma değerleri 400–1100 nm aralığında incelendi. Daha sonra bu değerler kullanılarak enerji bant aralığı Eg, yansıma R, sönüm katsayısı k, kırılma indisi n, reel ve imajiner dielektrik sabitler ε1, ε2 değerleri hesaplandı. Hall ölçümlerinden, CuS ince filmler p-tipi iletkenlik göstermiştir ve özdirenç değerleri bulunmuştur.