Bakır ince filmlerinin X-ışınları soğurma spektroskopisi ile incelenmesi

ÖZYÜKSEK LİSANS TEZİEla TAZEÇUKUROVA ÜNİVERSİTESİFEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜFİZİK ANABİLİM DALIDanışman: Prof.Dr. Yüksel UFUKTEPEYıl: 2005, Sayfa: 65Jüri: Prof.Dr. Yüksel UFUKTEPEDoç.Dr. Metin ÖZDEMİRYrd.Doç.Dr. Zerrin ESMERLİGİLYumuşak X-ışınları soğurma spektroskopisi (X-ray absorption spectroscopy), yüzey fiziğinde ve katı hal fiziğindestandart bir yöntem olarak gelişmektedir. EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure Spektroscopy) yerel atomikdüzenleme ve yönelimleri araştırmak için mükemmel bir yöntemdir. Soğurma katsayısı genellikle kalınlığı bilinen bir örnekkullanılarak geçirme (transmission) deneyi ile belirlenir. Geçiş metallerindeki L kenarı X-ışını soğurma ince yapısı (XAFS)çalışmaları p-d dipol geçişleri arasındaki önemli d valans (değerlik) elektronlarıyla bağlantıya izin vermesi nedeniyle büyük ilgigörmektedir.Bu çalışmada Cu (Bakır) ince filimleri 900 eV ile 1100 eV foton enerji değerleri arasında EXAFS ile incelenmiştir. Cumetali L2,3 kenarında x-ışınları soğurma spektroskopisinde iki keskin maksimum gösterir. Maksimumlar iki spin-yörüngebileşenlerinden, 2p 3/2 ve 2p 1/2 geçişlerinden kaynaklanır. L2 ve L3 maksimumlarının benzer yapıda olup genlik büyüklükleri 1:2oranına çok yakındır.Anahtar Kelimeler:X-ışınları soğurma spektroskopisi (XAS), EXAFS, Bakır L2,3 kenarı , ince filim, geçiş metalleri