Cu2O ince filmlerinin optik, yapısal, morfolojik ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi

Bu tez çalışmasında, bakır (I) oksit (Cu2O) ince filmleri, SILAR yöntemi ile 10-, 20-, 30- ve 40-daldırma çevrimlerinde 50 o C sıcaklığında cam alt taşlar üzerinde sentezlendi. İnce filmlerin kalınlığa bağlı yapısal, optik, morfolojik ve elektriksel özellikleri incelendi ve detaylı bir şekilde yorumlandı. XRD sonuçlarından, Cu2O ince filmlerin polikristal yapıda, kübik fazda ve kristale ait tercihli yönelimin (111) Miller düzlemi boyunca olduğu görüldü. Cu2O ince filmlerin daldırma çevrim sayısı arttıkça kalınlık değerlerinin de artığı buna bağlı olarak oda sıcaklığında bulunan optik geçirgenlik değerlerinin azaldığı tespit edilmiştir. Cu2O ince filmlerin enerji bant aralığı değerleri sırasıyla 2.47 eV, 2.44 eV, 2.41 eV ve 2.38 eV olarak hesaplanmıştır. Bakır oksit ince filmlerin enerji bant aralığı değerleri ince filmlerin kalınlık değerlerinin artışı ile azaldığı görülmüştür. FE-SEM görüntülerinden Cu2O ince filmlerin karnabahar-benzeri bir yapıda oluştukları görüldü.