Alttaşların SnS ince filmlerin özelliklerine etkisi ve silikon üzerine cihaz uygulaması

Bu tezin amacı, farklı yüzeylerde biriktirilen SnS ince filmlerinin yapısal, yüzey ve optik özellikleri açısından incelenmesidir. Bunlara ek olarak SnS ince filmin elektriksel özelliklerine de odaklanılmıştır. Bu bağlamda, SnS ince filmler ilk olarak elektron ışını tekniği kullanılarak soda kireç camı (SLG), silikon (Si), indiyum katkılı kalay oksit (ITO) ve flor katkılı kalay oksit (FTO) alttaşları üzerine büyütülmüştür. Filmlerin yapısal karakterizasyonu, X-ışını kırınımı (XRD) ve enerji dağıtıcı spektrometresi (EDS) kullanılarak yapıldı. Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ve taramalı elektron mikroskobu (SEM) SnS ince filmlerinin yüzey analizi için kullanıldı. Filmlerin optik karakterizasyonu için UV-Vis spektroskopisi kullanılmış ve bant aralığı değerleri hesaplanmıştır. SnS ince filmlerin elektriksel karakterizasyonu, sıcaklığa bağlı akım-voltaj (I-V) ve fotoiletkenlik ölçümü yoluyla gerçekleştirildi. Bir sonraki adımda SnS / Si yapısının cihaz karakterizasyonu gerçekleştirildi. Aynı şekilde, cihaz performansı için elektriksel karakterizasyon yapıldı. Ayrıca oda sıcaklığında karanlık ve farklı ışık yoğunluğu koşullarında I-V ölçümü gerçekleştirildi. Elde edilen sonuçlara göre, farklı yüzeyler üzerine serilen SnS ince filmlerin literatüre karşılık gelen yapısal, yüzey ve optik özellikler gösterdiği tespit edildi. SnS / Si yapısının fotodiyot davranışı sağladığı da belirlendi.