Yüksek LisansAçık Erişim

Kobalt ince filmlerinin X-ışını soğurma spektroskopisi ile incelenmesi

Bu tez size mi ait?

Bu kayıt toplu arşivden geldi. Sizinse profilinize bağlayın.

2008
0 görüntülenme
0 i̇ndirme

Özet (TR)

Kobalt' ın L2,3 uçlarında ?e toplam elektron kazanç derinliğini veya elektron kaçış derinliğini hesaplamak için x-ışını soğurma spektroskopisini kullanarak ince kobalt filmleri değişik kalınlıklarda oluşturuldu. Uygun foton enerjisi ile uyarılan kobalt filmlerinde ortaya çıkan toplam elektron ürünü kaydedilerek incelendi. Toplanan veri ve analizler sonucunda ?e elektron kaçış derinliğini (escaping depth) hesapladık. Bulunan bu değerler literatürde daha önce yapılmış olan diğer çalışmalar ile karşılaştırılmış ve bu çalışmada elde edilen sonuçların uygun değerler olduğu saptanmıştır.Analizlerimiz sonucunda TEY elektron kaçış derinliği ?e=2.7±0.1 nm bulunmuştur.

Yazar

Ayşe Bozduman

Bu Yayına Nasıl Atıf Yapılır

Ayşe Bozduman (Yüksek Lisans Tezi). Kobalt ince filmlerinin X-ışını soğurma spektroskopisi ile incelenmesi, 2008, Çukurova University, Fizik Bölümü.

Anahtar Kelimeler

Lisans

Tüm Hakları Saklıdır

Bu eser belirtilen lisans koşulları altında paylaşılmaktadır.

Çukurova University tezlerinden daha fazlası