SILAR yöntemiyle katkısız ve Al katkılı ZnO ince filmlerin ile üretilmesi ve karakterizasyonu

Bu çalışmada katkısız ZnO ve farklı konsantrasyonlarda Al-katkılı ZnO ince filmler ITO substrate üzerine SILAR (Sıralı İyonik Tabaka Adsorpsiyonu ve Reaksiyonu) yöntemi ile başarılı bir şekilde büyütüldü. Üretilen ince filmler Taramalı elektron mikroskobu (SEM/EDS), X-ışını kırınımı (XRD) ve UV-VIS spektroskopi yöntemi ile karakterize edildi. XRD analiz sonuçlarından üretilen ince filmlerin nanoboyutta kristalize olduklarını ve kristalleşme kalitesinin Al katkı konsantrasyonuna bağlı olarak değiştiğini görüldü. SEM/EDS analiz sonuçları, ZnO ince filmlerin morfolojisi üzerinde Al katkılama konsantrasyonun önemli bir etkiye sahip olduğunu gösterdi. UV-VIS analiz sonuçları, üretilen ince filmlerin hem optik bant aralığı değerlerinde hem de geçirgenliklerinde katkı konsantrasyonuna bağlı olarak önemli farklılıkların oluştuğunu görüldü.