Moleküler yapı ve efektif yükteki değişime göre Ll ve Lη X x-ışını emisyon çizgilerinde kimyasal etkinin WDXRF spektrometresi ile araştırılması

Yayımlanan X-ışını enerjileri, çizgi şekilleri, floresans verimleri, soğurma olasılıkları ve elementlerin soğurma kenarları (kıyıları) X-ışını spektroskopisinde temel parametreler olarak bilinmektedir. Bu parametreler, kompleks malzemelerin bileşimsel analizini kolaylaştırdıkları için de pratik öneme sahiptir. Ayrıca atomik teorileri de test etme imkânı sağlar. Kimyasal etki ise, maddenin kimyasal durumuna bağlı olarak X-ışını çizgisinin enerjisinde, yarı maksimumdaki tam genişliğinde (FWHM), asimetri indeksi (AI) değerlerinde bazı değişiklikler meydana getirebilir. Bu etkiler her ana grup element için farklılık göstermekle birlikte, bu farklılıklara ne veya nelerin neden olabileceği araştırıldı. Bu çalışmada bazı lantanit grubu bileşiklerde kimyasal etki değerlerindeki değişimler, Rh anotlu X-ışını tüpüne sahip tek kristalli (LiF) Rigaku marka ZSX 100e dalga boyu ayrımlı X-ışını spektrometresi (WDXRF) kullanılarak incelendi. Ll ve Lη X-ışını emisyon çizgileri Lorentz fonksiyonuna fit edilerek incelendi. Etkin yükler (qp, qs) Pauli Metodu ve Suchet Metodu kullanılarak hesaplandı. Kimyasal kayma değişimleri ile arasındaki ilişki araştırıldı. Ayrıca moleküler yapı ve kristal yapısındaki değişimlere göre de kimyasal kayma incelendi.