Yeni nesil self-etchıng adeziv sistemlerin rezin kompozit restorasyonlarında mikrosızıntılarının karşılaştırılması

Amaç: Bu çalışmanın amacı, yeni nesil beş self-etching adeziv sistemin sınıf V restorasyonlarda mikrosızıntı miktarlarını in vitro koşullarda karşılaştırmalı olarak değerlendirmektir.Gereç ve Yöntem: Bu çalışmada ortodontik veya periodontal sebeplerle çekilmiş 100 adet çürüksüz insan molar dişi kullanıldı. Çekim sonrasında dişler üzerindeki yumuşak dokular ve artıklar bir kretuar uzaklaştırıldı, pomza ve fırça yardımıyla parlatıldı. Çalışmada kullanılacakları güne kadar dişler distile suda, oda sıcaklığında bekletildi. Dişlerin bukkal yüzeylerinde, mine sement birleşiminin (servikal) 1 mm altında sonlanacak şekilde silindirik elmas frezler (Diatech, Swiss Dental Instruments, Heerbrugg, Switzerland) yardımıyla mezio-distal genişliği 3 mm, okluzo-gingival genişliği 2 mm ve derinliği 1.5 mm olan standardize sınıf V kaviteler hazırlandı ve mine kenarları 0.5-1 mm genişliğinde olacak şekilde elmas rond frezlerle (Diatech, Swiss Dental Instruments, Heerbrugg, Switzerland) bizote edildi. Dişler her grupta 20'şer adet olacak şekilde rastgele beş gruba ayrıldı. 1.grup: Clearfil S3 Bond (Kuraray Medical Inc., Japonya), 2.grup: Xeno V (Dentsply DeTrey, Konstanz, Almanya), 3.grup: G Bond (GC, America), 4.grup: Optibond All In One (Kerr Corporation, Orange, CA), 5.grup: iBond (Heraeus Kulzer, Almanya) uygulandıktan sonra hazırlanan kavitelere üretici firmaların tavsiyeleri doğrultusunda kompozit rezinler yerleştirildi ve LED (Light Emitting Diode-Elipar Freelight, 3M ESPE, Germany) cihazı ile polimerize edildi. Bitirme ve cila işlemlerinden sonra dişler önce 24 s 37 oC de etüvde (Nüve Incubator EN 120, Ankara, Türkiye) distile su içerisinde bekletildi. 24 saat sonra restorasyonların parlatılma işlemi su altında elmas bitirme frezleri (Diatech Dental AG, Heerbrugg, Switzerland) ile yapıldı ve alüminyum oksit kaplı diskler (Sof-Lex, 3M ESPE, St. Paul, MN, USA) yardımıyla tamamlandı. Ardından dişler 5 ± 2 ºC ve 55 ± 2 ºC de termal siklus cihazında (NOVA, Konya, Türkiye) 10.000 kez termal siklus işlemine tabi tutuldu. Daha sonra dolguların 1mm çevresi hariç dişler tamamen 2 kat aside dirençli tırnak cilası ile kaplandı ve ardından 24 s 37 oC de (Nüve Incubator EN 120, Ankara, Türkiye) % 0.5'lik metilen mavisinde bekletildi. Bu süre sonunda boyadan çıkartılan örneklerden isomet 1000 cihazında (Isomet 1000 Precision Saw, BUEHLER, USA) alınan kesitler stereomikroskop (Olympus SZ 40, SZ-PT, Japan) altında x15 büyütmede incelenerek fotoğrafları alındı. Gingival ve okluzal mikrosızıntı dereceleri standart bir skala ile 0-4 arasında skorlandı. Ayrıca, her gruptan rastgele birer örnek seçildi ve rezin-diş sert dokusu ara yüzeyi SEM ( JSM-5600 JEOL SEM, Jeol Co., Tokyo, Japan) altında farklı büyütmelerde incelenip fotoğraflandı. Elde edilen sonuçlar istatistiksel olarak Kruskal-Wallis ve Mann Whitney U testleri ile değerlendirildi.Bulgular: Gruplar arasındaki okluzal ve gingival mikrosızıntı farkları istatistiksel olarak anlamlı bulundu (p<0.05)(p=0.043, p=0.005). Clearfil S3 Bond ve Optibond All In One gruplarında okluzal mikrosızıntı değerlerinin diğer üç gruptan oldukça düşük olduğu gözlendi. iBond grubunda mikrosızıntı değerlerinin en yüksek olduğu tespit edilirken Xeno V ve G Bond grupları arasında istatistiksel olarak bir farklılık olmadığı gözlenmiştir (p>0.05). iBond grubunda gingival kenarda mikrosızıntı değerlerinin en yüksek olduğu tespit edilirken diğer gruplar arasında istatistiksel olarak bir farklılık olmadığı tespit edilmiştir (p>0.05).Sonuç: Çalışmamızda termal siklus ile ağız ortamı taklit edilmeye çalışıldı. Hazırlanan sınıf V kavitelerde self-etching adezivlerin okluzal ve gingival mikrosızıntı skorlarının bir grup haricinde başarılı olduğu saptanmıştır.