Optik faz ölçüm yöntemiyle morötesi ışıkla kürlenmiş optik yapıştırıcının kırılma indisinin bulunması

Morötesi ışıkla kürlenme, optik ve fotonik alanlarında sıklıkla kullanılmaktadır. Bu alanlarda kullanılan malzemelerin optik özelliklerinin bilinmesi önemlidir, kullanım ve uygulama alanına göre optik özelliklerin daha hassas ölçümlerine ihtiyaç duyulmaktadır. Optik bileşenlerin birleştirilmesinde özellikle faydalanılan morötesi ışıkla kürlenen optik yapıştırıcı malzemelerin kırılma indislerinin bilinmesi doğru cihaz tasarımı ve üretimi için son derece gerekli bir parametredir. Bu tez çalışmasının amacı morötesi ışıkla kürlenen v optik yapıştırıcı malzemenin kırılma indisinin optik faz ölçüm yöntemiyle belirlenmesidir. Bu amaca ulaşmak için öncelikle üretan akrilat optik yapıştırıcı malzeme, 365-405 nm aralığında dalga boyuna sahip LED ışık kaynağıyla ile kürlenmiştir. İnce bir film olarak hazırlanan ve kürlenen örneğin kalınlığının belirlenmesi için SEM (taramalı elektron mikroskobu) görüntüleme yapılmıştır. Böylece kalınlığı ölçülen örnekler, tek renk kırınım faz mikroskobu (TRKFM) ile görüntülenerek Fourier dönüşümü tekniğiyle yüzey faz profili oluşturulmuş ve bu profilden kırılma indisi hesaplanmıştır. Literatürde ince film formunda üretilen geçirgen malzemelerin ya da morötesi ışıkla kürlenen yapıştırıcı malzemelerin kırılma indisinin ölçülmesi amacıyla daha önce TRKFM deney kurulumu kullanılmamıştır. Bu açıdan tez konusu literatüre yöntem olarak özgün katkılar sağlamaktadır.